半导体测试领导者Star Technology今天宣布推出晶圆级光学设备测试解决方案Star Apollo ApolloWLBI。该新系统通过包括传统的电子测量功能，以及光学监控和更换测试时间的高度并行测量功能，可以满足5G光学设备的晶圆级老化测试要求。 Star Apollo ApolloWLBI是一种先进的综合综合测试解决方案。整套设备包括定制的模块化ApolloWLBIPer-pinSMU测试系统，MagicA200e探针台和垂直探针卡。 ApolloWLBI可以通过测试通道的数量，电压，电流水平，静态或动态设置等进行配置。由于每个Per-pinSMU具有超过6000个通道，电压和电流范围不同，因此该系统可以提供和监视每个通道以确定随着时间的流逝，被测设备是通过还是失败。同时，探针台设计有热卡盘，在并行设备老化周期中可以具有高功率和800W的散热能力，从而可以在老化过程中将设备保持在工作温度下。探针台还包括高温和机械稳定的探针卡适配器（> 6000pins），已获得专利的真空密封接口，用于与触控卡保持恒定的电和光接触。高负荷的Z轴移动工作台可以在卡盘上施加大于400 kg的检测力，并且平面度变化小于10um，从而确保了在老化周期中良好的检测接触。 Star Technology首席执行官Liu Junliang博士说：“ Star Apollo ApolloWLBI是一种先进的集成测试解决方案，可满足行业客户对5G光学设备的测试要求。用户还可以以较低的成本使用射手座系列的测试平台。以管理整个测试程序。